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走査型プローブ顕微鏡(AFM)
高分子フィルム表面のナノスケールの物性を測定し、可視化することができます。 |
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三次元顕微鏡
高分子フィルムの表面の凹凸などの構造を三次元で観察できます。 |
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CCDカメラ装着型時分割光散乱
偏光板の向きを変えて、高分子の結晶化・融解やポリマーブレンドの液々相分離挙動を光散乱により時分割で追跡し、分離評価が可能です。また超臨界流体下での測定にも対応するようにカスタマイズも可能になっています。 |
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光学、偏光顕微鏡
高分子の構造が観察できます。画像処理機能ソフトを搭載し、結晶化過程をその場観察できます。また、温度コントローラーを搭載したお陰で、熱処理条件における観察も可能になりました。 |
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走査型電子顕微鏡
光学顕微鏡で観察できないμm以下の構造が観察可能。 |
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光電子増倍管型光散乱測定装置
試料にレーザー光をあててその微弱な透過光、散乱光を検出できる。ゲル、高分子ガラスなどの散乱の評価が可能。また、反射光の解析により構造色を有する材料についても測定可能。 |
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紫外可視分光光度計
可視部(200nm〜900nm)の波長の光を用いて分光吸収分析及び試料の透過率・反射率を測定できる。 |
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X線(SAXS,WAXD)
高分子材料の分子配向や結晶構造、結晶化度を評価することができます。SAXSでは10〜100nmのラメラスケール、WAXDでは0.1〜1nmの結晶スケールの解析を行います。 |
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FT-IR測定装置(フーリエ変換赤外分光光度計)
赤外吸収スペクトル測定により試料の同定、化学構造の評価を行います。全反射測定法 (ATR)を用いることで配向試料の配向度も測定が可能です。 |
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二次元赤外顕微鏡
FT-IR測定装置に顕微鏡ユニットを導入することにより平面における赤外吸収測定の評価を行います。微細試料の測定や、 ポリマーブレンドの海島構造等の評価が可能です。
また、偏向子を挿入することで赤外二色性の測定が可能です。また、ホットステージを導入することで、熱をかけながらの測定も可能です。 |
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可視化観察用小型耐圧セル&長焦点デジタル顕微鏡システム 超臨界流体下での高分子の加熱中の挙動を可視化するためのシステムになっています。耐圧セルの上下をサファイア窓で挟み込むことで観察が可能です。その窓を長焦点デジタル顕微鏡を用いて観察します。デジタル顕微鏡は偏光板や鋭敏色板を入れるなどのカスタマイズが可能です。
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