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東京農工大学 工学部 有機材料化学科 斎藤拓研究室

〒184-8588 東京都小金井市中町2-24-16

研究設備INSTRUMENT

材料創製 

自転・公転ミキサー
通常ではなかなか分散しない試料同士を均一に分散させることが可能です。
超高圧超臨界流体処理装置
非常に高い圧力(最大220 MPa)の超臨界二酸化炭素による処理をすることが可能です。
二軸延伸機
高温の条件下で高分子フィルム試料を延伸倍率1〜5倍まで二軸延伸可能。また、力学挙動も測定可能です。
卓上プレス機
ポリマーを高温で溶融、成形しフィルム試料を作製する、試料作製には欠かせない装置です。
小型混練成形装置
数種類の材料を熱を描けることで溶融して、混練することでポリマーブレンドの試料の作製が可能。
超臨界延伸装置
超臨界流体下で高分子のフィルムや繊維の延伸をすることで多孔試料や高強度な試料を作ることができます。装置の上下のサファイア窓から延伸過程での構造変化も観察可能です。また、歪みゲージを取り付けることで延伸中の応力測定も出来るように改良しました。
超臨界流体場混練成形装置
超臨界流体下で高分子材料を混練し、ポリマーブレンドや押出し成形、さらには超臨界中で撹拌させながらの化学反応をすることが可能です。また、押出し成形過程をその場観察することが可能です。
超臨界流体用耐圧容器 (オートクレーブ)
高温、高圧下で高分子試料を超臨界処理することができます。
超臨界耐圧反応容器(ポータブルリアクター)
超臨界流体下で高分子を撹拌させ、手軽に化学実験を行うことが可能です。超臨界流体を溶媒とすることで、溶媒フリーな反応や、特異的な性質を示す物質の精製ができます。
熱延伸機
高温の条件下で高分子フィルム試料を延伸倍率1~6倍まで延伸可能。また延伸過程も観察することができる。

構造評価 

   
走査型プローブ顕微鏡(AFM)
高分子フィルム表面のナノスケールの物性を測定し、可視化することができます。
三次元顕微鏡
高分子フィルムの表面の凹凸などの構造を三次元で観察できます。
CCDカメラ装着型時分割光散乱
偏光板の向きを変えて、高分子の結晶化・融解やポリマーブレンドの液々相分離挙動を光散乱により時分割で追跡し、分離評価が可能です。また超臨界流体下での測定にも対応するようにカスタマイズも可能になっています。
光学、偏光顕微鏡
高分子の構造が観察できます。画像処理機能ソフトを搭載し、結晶化過程をその場観察できます。また、温度コントローラーを搭載したお陰で、熱処理条件における観察も可能になりました。
走査型電子顕微鏡
光学顕微鏡で観察できないμm以下の構造が観察可能。
光電子増倍管型光散乱測定装置
試料にレーザー光をあててその微弱な透過光、散乱光を検出できる。ゲル、高分子ガラスなどの散乱の評価が可能。また、反射光の解析により構造色を有する材料についても測定可能。
紫外可視分光光度計
可視部(200nm〜900nm)の波長の光を用いて分光吸収分析及び試料の透過率・反射率を測定できる。
X線(SAXS,WAXD)
高分子材料の分子配向や結晶構造、結晶化度を評価することができます。SAXSでは10〜100nmのラメラスケール、WAXDでは0.1〜1nmの結晶スケールの解析を行います。
FT-IR測定装置(フーリエ変換赤外分光光度計)
赤外吸収スペクトル測定により試料の同定、化学構造の評価を行います。全反射測定法 (ATR)を用いることで配向試料の配向度も測定が可能です。
二次元赤外顕微鏡
FT-IR測定装置に顕微鏡ユニットを導入することにより平面における赤外吸収測定の評価を行います。微細試料の測定や、 ポリマーブレンドの海島構造等の評価が可能です。 また、偏向子を挿入することで赤外二色性の測定が可能です。また、ホットステージを導入することで、熱をかけながらの測定も可能です。
可視化観察用小型耐圧セル&長焦点デジタル顕微鏡システム
超臨界流体下での高分子の加熱中の挙動を可視化するためのシステムになっています。耐圧セルの上下をサファイア窓で挟み込むことで観察が可能です。その窓を長焦点デジタル顕微鏡を用いて観察します。デジタル顕微鏡は偏光板や鋭敏色板を入れるなどのカスタマイズが可能です。

物性評価 

動的粘弾性測定装置
材料の機械的特性を時間、温度、周波数の関数として測定できます。ガラス転移温度および二次転移、処理によって引き起こされる配向、冷結晶化、硬化最適化、複合材料におけるフィラー効果などを測定するために使用されています。
応力・複屈折同時測定装置
ポリマー変形時の応力に加え、複屈折を高速、高精度(1nm、10msec)で同時に測定することで、SEMや顕微鏡でも見えない構造を評価することが出来る装置!位相差フィルムなどの光学材料の評価が可能であり、LabVIEWで制御されています。
温度コントローラー・冷却ユニット
昇温・冷却速度もコントロールできる画期的な代物。さらに、X線回折測定装置、光散乱、偏光顕微鏡とも接続できるアタッチメントをつけることで様々な物性評価が可能になりました。
引張試験機
一軸延伸過程の応力や、応力の緩和挙動を簡単に測定できる。高分子の力学挙動の評価にはなくてはならない装置です。
示差走査熱量計(DSC)
高分子のガラス転移温度、結晶の融点、融解熱の測定が可能です。温度変調モードで測定することで様々な物理現象の測定が可能になりました。また、温度変調DSC測定により、より高度な測定も可能です。
示差熱天秤(TG-DTA)
試料の重量を量りながら熱をかけることにより、高分子の熱分解温度と、分解に伴う重量損失を知ることができます。
誘電緩和測定装置
高分子の誘電率、導電率を求めることができます。誘電率の周波数依存性から分子運動性を評価することができます。耐圧容器と組み合せることで超臨界中での誘電率の測定も可能です
超臨界流体場誘電緩和測定装置
超臨界流体下での高分子試料の誘電緩和測定が可能です。
アッベ屈折率計
試料の屈折率を簡易的に知ることができます。

斎藤拓研究室

〒184-8588
東京都小金井市中町2-24-16

教員室:4号館448a
学生室:4号館440