単結晶Ｘ線自動解析装置
2003年7月22日修正
(1)単結晶自動Ｘ線構造解析装置 (2)Ｘ線自動粉末回折装置
機器分析センター機器室３機器の構成、型式等：
(1)Ｘ線発生部：回転対陰極型（対陰極 Cu or Mo）、最大定格出力 60 kV 200 mA、Ｘ線検出部 シンチレーションカウンター。電子計算機：Silicon Graphics IRIS INDIGO ENTRY （主記憶容量 16 MB、磁気ディスク 1425 MB) (2)Ｘ線発生部：封入管型（対陰極 Cu）、最大定格出力 40 kV 50 mA。Ｘ線検出部：シンチレーションカウンター、粉末回折用ゴニオメーター、反射法小角散乱用ゴニオメーター機器の性能：
(1)本装置は単結晶試料からのＸ線回折強度を自動測定し、このデータをもとに結晶構造の解析を行う。分子量が1500程度までの化合物なら本システムで解析可能である。(2)粉末状、フィルム状試料からの回折Ｘ線を自動測定する。小角散乱装置は通常の透過法のほか反射法での測定も可能である。測定、利用対象となる試料名、または研究例：
(1)低分子化合物の単結晶試料（現在までのところ、各種有機化合物、有機金属錯体化合物の構造解析に利用されている。） (2)低分子、高分子を問わず、粉末状試料、フィルム状試料の測定が可能である。利用方法：
初めて利用するときは下記の問い合わせ先にご連絡ください。問い合わせ先：
工学部生命工学科 奥山健二 内線7028★東京農工大学放射線障害予防規則により、Ｘ線装置を利用する職員、学生は作業従事者として登録が必要です。未登録者の使用は出来ませんのでご注意下さい。
Mail To :okuyamak@cc.tuat.ac.jp