研究試料の提供
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3.0THzテラヘルツ波帯コリメータ
知的財産権
特開2017-034584, 特許6596748, US 10,686,255 B2
0.5THz帯ゼロ屈折率・無反射材料
材料特性
メタマテリアル
厚さ: 51 um
周波数: 0.5 THz帯
屈折率: 0.16+j0.09(0.505 THz)
透過電力: 97.3%(0.505 THz)
反射電力: 0.7%(0.505 THz)
比誘電率: 0.18-j0.10(0.505 THz)*(エネルギー保存則は成立・詳細はSec. 4)
比透磁率: 0.004+j0.16(0.505 THz)
知的財産権
特開2017-157975, 特許6676238, US 10,903,579 B2
3.0THz帯高屈折率・低反射材料
材料特性
メタマテリアル
厚さ: 5 um
周波数: 3.0 THz帯
屈折率(参考文献1の設計値): 8.0+j0.4(2.92 THz)
透過電力(参考文献1の設計値): 71.2%(2.92 THz)
反射電力(参考文献1の設計値): 1.2%(2.92 THz)
備考: この3.0THz帯高屈折率・低反射材料は主に設計データの提供となります。以下の参考文献のデータには実験誤差、試作誤差が含まれています。
参考文献
[1] Harumi
Asada, Kota Endo, and Takehito Suzuki, "Reflectionless metasurface
with high refractive index in the terahertz waveband," Optics
Express, vol.29, vol.10, pp.14513-14524, Apr. 2021.
[2] 朝田 晴美, 鈴木 健仁, "スーパーインクジェットプリンタで試作した3.0THz帯高屈折率低反射メタサーフェスの実験評価,"
2019年第66回応用物理学春季学術講演会, 東京工業大学, Mar. 2019.
[3] 朝田 晴美, "高屈折率低反射なテラヘルツ波帯メタサーフェスの高周波化と実験評価,"
卒業論文予稿集, Feb. 2019.
知的財産権
特開2017-034584, 特許6596748, US 10,686,255 B2
2.0THz帯負の屈折率材料
材料特性
メタマテリアル
厚さ: 24 um
周波数: 2.0 THz帯
屈折率: -3.03+j0.29(1.96 THz)
透過電力: 56.4%(1.96 THz)
反射電力: 3.51%(1.96 THz)
備考: この2.0THz帯負の屈折率材料は主に設計データの提供となります。上記データには実験誤差、試作誤差が含まれています。
負の屈折率・高透過・低損失材料
材料特性
メタマテリアル
厚さ: 51 um
周波数: 0.42 THz
屈折率: -4.2+j0.17(0.42THz)
透過電力: 81.5%(0.42THz)
反射電力: 4.3%(0.42THz)
FOM(nreal/nimag): 24.2(0.42 THz)
極短焦点な0.3THz帯テラヘルツ波帯コリメータ
性能
メタレンズ・アンテナ
周波数: 0.3 THz帯
焦点距離: 1 mm
直径: 2 mm
F/D比: 0.5
開口数NA: 0.7
プレスリリース
東京農工大学
0.3THz帯テラヘルツ波帯コリメータ
性能
メタレンズ・アンテナ
周波数: 0.3 THz帯
焦点距離: 10 mm
直径: mm
F/D比:
開口数NA:
[3] 鈴木 健仁, "極限屈折率材料の探索とテラヘルツ波帯への応用," 応用物理, vol.86, no.10, pp.897-902, Oct. 2017.
知的財産権
特開2017-034584, 特許6596748, US 10,686,255 B2
0.3THz帯テラヘルツ波帯集光レンズ
高屈折率・無反射0.3 THz帯材料
材料特性
メタマテリアル
厚さ: 51 um
周波数: 0.3 THz帯
屈折率: 6.66+j0.123(0.309THz)
反射電力: 1.16%(0.309THz)
透過電力: 91.8%(0.309THz)
FOM(nreal/nimag): 54.3(0.309 THz), 314(0.291 THz)
[2] 鈴木 健仁, "極限屈折率材料の探索とテラヘルツ波帯への応用," 応用物理, vol.86, no.10, pp.897-902, Oct. 2017.
知的財産権
特開2017-034584, 特許6596748, US 10,686,255 B2
テラヘルツ波帯大口径円偏波生成板
テラヘルツ波帯高感度偏光子GoIS®
現在、当研究室では学術研究と産業の発展へ貢献することを目標に、JST(国立研究開発法人 科学技術振興機構)の協力によりテラヘルツ波帯高感度偏光子GoIS®のサンプルの試用を開始しています。
知的財産権
特許第5626740号
商標登録第5769812号